leeb253型大量程涂鍍層測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量；廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。

leeb253型大量程涂鍍層測厚儀符合以下標準：

GB/T4956─1985磁性方法；

JJG818-95《磁阻法測厚儀》；

JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀。

leeb253型大量程涂鍍層測厚儀功能與特點

采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性；

覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)；

可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正；

具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；

具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；

具有米、英制轉(zhuǎn)換功能；

具有欠壓指示功能；

操作過程有蜂鳴聲提示；

具有錯誤提示功能；

具有自動關(guān)機功能。

leeb253型大量程涂鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)

測頭類型：F；

測量原理：磁感應；

測量范圍：0-6000um；

低限分辨力：1μm(10um以下為0.1um)；

探頭連接方式：一體化；

leeb253型大量程涂鍍層測厚儀示值誤差：

一點校準(um)：±[3%H+1]；

兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1]；

leeb253型大量程涂鍍層測厚儀測量條件：

*小曲率半徑(mm)：凸1.5|凹9；

基體*小面積的直徑(mm)：ф7；

*小臨界厚度(mm)：0.5；

溫濕度：0~40℃|20%RH～90%RH；

工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；

測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；

leeb253型大量程涂鍍層測厚儀上下限設(shè)置：無；

關(guān)機方式：自動；

電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池；

外形尺寸：150×55.5×23mm；

重量：150g。

leeb253型大量程涂鍍層測厚儀標準配置

leeb253主機；

鐵基體；

標準片一套；

充電器；

使用說明書；

合格證書；

包裝箱。

可選配

鐵基體；

標準片。

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